近紅外光譜儀已有60多年的歷史，能夠為各類用戶群體的日常工作決策過程提供幫助。 許多行業(yè)都均依賴光譜儀獲取重要信息。近紅外光譜儀主要用于測量通過材料樣本反射或發(fā)射的能量。通過該技術人們可以了解樣本內(nèi)部分子的類型。從某種意義上來說，該儀器是在尋找物質的分子“足跡”。

　　早期光譜儀通常是體積龐大笨重且配備活動部件的儀器，照明光源通過棱鏡或光柵被分散為其子部件適用的波長。針對相應光譜上的每個測量點，光柵在手動控制下以小的增量旋轉。每個所測樣本的數(shù)據(jù)都被整理成一份光譜圖。然后，需要手動將光譜圖與參考物及其他樣本進行對比。這些早期光譜儀固定擺放在實驗室的某個位置，而且一經(jīng)安裝就很少再被移動。

　　當今的近紅外光譜儀通常采用以下六部分組成：

　　1、FT-NIR：這類儀器利用邁克耳孫干涉儀技術的傅立葉交換性質，通過移動的鏡面創(chuàng)造能夠與某個光譜形成數(shù)學相關的干涉圖樣。

　　2、固定濾波器：這類儀器基于固定數(shù)量的波長進行測量，每種波長對應濾光輪上特定的濾光片。濾光輪在不同濾光片之間轉動時進行讀數(shù)。

　　3、旋轉光柵/棱鏡：這類儀器利用電機在單點探測器上移動光柵分散的輸出（波長）。

　　4、線陣探測器：這類儀器利用光柵在元素數(shù)量為256或512以上的一維線性像素陣列上分散波長。

　　5、DLP技術：數(shù)字微鏡器件（DMD）將光柵分散的光反射到單個像素探測器上。DMD可編程，且靈活度高，因此可按照任何順序或不同分辨率對波長進行采樣。整個過程只需一次掃描即可完成。

　　6、線性漸變?yōu)V光器：這類儀器利用線陣探測器前的漸變?yōu)V光元素，使特定波長能夠影響每個像素元素。

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